½Ã½ºÅÛ Á¦¾È ¹× ÆǸÅ
- ÃøÁ¤ ¼¾¼ (Áøµ¿, ¼ÒÀ½, ÃÊÀ½ÆÄ, ¾Ð·Â, ¿Âµµ µî)
- ÃøÁ¤ °èÃø±â±â ºÐ¾ß (Dynamic Signal Analyzer, Monitoring System, Inspection)
- »óÅ ¸ð´ÏÅ͸µ (¿¹Áö º¸Àü, »óÅ °¨½Ã, ÀÌ»ó Á¶°Ç)
- ±× ¿Ü ÇÊ¿ä Ç׸ñ
¹®Á¦ °ü·Ã ´ëÃ¥ ¼ö¸³
-
¼³ºñ ±âÃÊ Áøµ¿ ÃøÁ¤ ¹× Æò°¡
ISO Æò°¡ ±âÁØ ³» ÃøÁ¤ Æ÷ÀÎÆ® °èÃø ¹× Æò°¡ °á°ú µµÃâ
½Ã¿îÀü Æò°¡ ¹× Overhaul Àü/ÈÄ »óÅ Æò°¡
°í°´ ¿äû»çÇ׿¡ µû¸¥ Ç׸ñ ÃøÁ¤ ¹× °á°ú Á¦Ãâ
-
Á¤¹Ð Áøµ¿ ÃøÁ¤ ¹× ÀÌ»ó ¿øÀÎ µµÃâ
½Ã°£ÆÄÇü, ÁÖÆļö ºÐ¼®À» ÅëÇÑ Æ¯Á¤ ¿øÀÎ ºÐ¼®
°¡ÁøÁÖÆļö °è»ê ¹× Envelope ¿Ü ƯÁ¤ ½Åȣó¸® ºÐ¼®
ODS ±¸ÇöÀ» ÅëÇÑ ¼³ºñ »óÅ ½Ã¹Ä·¹À̼Ç
-
Áøµ¿ ½ÃÇè ¹× À¯ÇÑ ¿ä¼Ò Çؼ®
Bump Test ¹× FRF ½ÃÇèÀ» ÅëÇÑ °øÁø ºÐ¼®
Modal TEST¸¦ ÅëÇÑ Mode shape ±¸Çö
À¯ÇÑ ¿ä¼Ò Çؼ®À» ÅëÇÑ ½ÃÇè ¡ê Çؼ® »ó°ü¼º Æò°¡
ÄÁ¼³ÆÃ
- Áøµ¿ ±âº» 1 : ¼³ºñ°ü¸®(ÀϹÝ), Áøµ¿ ±âÃÊ, ¼¾¼ Á¾ÇÕ, µ¥ÀÌÅÍ Ãëµæ ¹× ó¸®
- Áøµ¿ ±âº» 2 : ¼³ºñÁø´Ü ¼ø¼, °áÇÔ ºÐ¼® 1, 2, 3
- ½Ç¹« ±â¼ú : Çʵå¹ë·±½Ì, ÃàÁ¤·Ä, °øÁø ºÐ¼®
- ¸ð´ÏÅ͸µ ¿î¿ë¹æ¾È : »óÅ °¨½ÃÀÇ ±âº» ±¸¼º, ½Ã½ºÅÛ Á¾·ù, °íµµÈ ¹æ¾È
±¹»êÈ ÇÁ·ÎÁ§Æ®
ÃøÁ¤À» ´ã´çÇÏ´Â ¼¾½Ì ÆÄÆ®, µ¥ÀÌÅÍ ¼öÁý ¹× 󸮸¦ ´ã´çÇÏ´Â Çϵå¿þ¾î ÆÄÆ®, ƯÁ¤ ½ÅÈ£ °ËÃâÀ» À§ÇÑ ¾Ë°í¸®Áò µî ¿©·¯ ºÐ¾ß¿¡ ÀÚ»çÀÇ ´Ù¾çÇÑ ±â¼úÀû ³ëÇϿ츦 ¹ÙÅÁÀ¸·Î Áö¼ÓÀûÀÎ ÅõÀÚ ¹× ¿¬±¸°³¹ßÀ» ¼öÇàÇÕ´Ï´Ù.
- Á¶´Þ ½ÃÀå ÁøÀÔÀ» À§ÇÑ ±â¼ú Àû¿ë ÇÁ·Î¼¼½º Áö¿ø(Çõ½Å Á¦Ç°, ¿ì¼ö Á¶´Þ µî)
- R&D ÇÁ·ÎÁ§Æ® Á¦¾È ¹× ¾÷¹« ¼öÇà
- ¼±Áø Á¦Ç° ¿¬±¸ °³¹ß ¹× ±¹»êÈ º´Çà ÃßÁø
- ÇØ¿Ü ÆÄÆ®³Ê»ç¿Í ±â¼ú ±³·ù¸¦ ÅëÇÑ Á¦Ç° »ç¾ç ÇùÀÇ ¹× Ãâ½Ã